Combining resonant inelastic X-ray scattering with micrometer resolution to image electronic properties of quantum materials

Masterarbeit, Universität Hamburg, 2019

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Schunck, Jan Oliver (VerfasserIn)
Körperschaft:	Universität Hamburg Fachbereich Physik (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Schroer, Christian (AkademischeR BetreuerIn), Beye, Martin (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Hamburg 2019
Schlagworte:	Hochschulschrift
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