Akustisches Condition Monitoring für den Halbleiter-Wafertest (ACME 4.0.Chip) Schlussbericht : Projektlaufzeit: 01.02.2016 bis 30.04.2019 = Acoustic condition monitoring for semiconductor wafertest (ACME 4.0.chip)

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nagler, Oliver (VerfasserIn)
Körperschaft: Infineon Technologies AG (Herausgebendes Organ)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Neubiberg Infineon Technologies AG 29.11.2019
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Förderkennzeichen BMBF 16ES0470
Verbundnummer 01167105
Paralleltitel dem englischen Berichtsblatt entnommen
Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
Beschreibung:53 Blätter, 2 ungezählte Blätter
Illustrationen, Diagramme