High definition metrology based surface quality control and applications

High definition metrology based surface quality control and applications

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Du, Shichang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Xi, Lifeng (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Singapore Springer 2019
Schlagworte:
Surfaces (Technology) > Analysis > Surfaces (Technology) ; Analysis
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references
Beschreibung:xiv, 329 Seiten
Illustrationen, Diagramme
ISBN:9789811502781
978-981-15-0278-1
9789811502798
981150279X