Understanding faults detecting, dating, and modeling

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Tanner, David (HerausgeberIn), Brandes, Christian (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Amsterdam, Ixford, Cambridge, MA Elsevier 2020
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Inhaltsverzeichnis und Leseprobe
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Beschreibung
Beschreibung:xiii, 366 Seiten
Illustrationen, Diagramme
ISBN:0128159855
0-12-815985-5
9780128159859
978-0-12-815985-9