Radiation effects on integrated circuits and systems for space applications

Chapter1: Space and Radiation Environments.- Chapter2: System-Level Modeling and Analysis fo the Vulnerability of a Processor to SEU.- Chapter3: Single Event Effects Test Methods.- Chapter4: Characteristics and Applications of Pulsed-Laser-Induced Single-Event Effects.- Chapter5: Microprocessor Test...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Velazco, Raoul (HerausgeberIn), McMorrow, Dale (HerausgeberIn), Estela, Jaime (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cham Springer 2019
Schlagworte:	Space vehicles > Electronic equipment > Electronic apparatus and appliances > Effect of radiation on > Integrated circuits
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Inhaltsverzeichnis und Leseprobe
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