Feinstruktur-Spektroskopie an Ni-Ionen in II-VI-Halbleitern , ein neuartiges Verfahren zur Ermittlung der Elektron-Phonon-Wechselwirkung in dotierten Festkörpern

Berlin, Techn. Univ., Diss., 1985

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hoffmann, Axel (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1985
Schlagworte:	Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Berlin, Techn. Univ., Diss., 1985
Beschreibung:	168 S. graph. Darst.