Proceedings / 12th IEEE VLSI Test Symposium : April 25 - 28, 1994, Cherry Hill, New Jersey

Proceedings / 12th IEEE VLSI Test Symposium April 25 - 28, 1994, Cherry Hill, New Jersey

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (BerichterstatterIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers Philadelphia Section (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society Press 1994
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI > Testen
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE catalog number 94TH0645-2. - Literaturangaben
Beschreibung:XVIII, 466 S
Ill
28 cm
ISBN:0818654406
0-8186-5440-6
0818654418