Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Göken, Mathias (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Fortschrittberichte VDI Reihe 18, Mechanik, Bruchmechanik 175
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