Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Göken, Mathias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Fortschrittberichte VDI Reihe 18, Mechanik, Bruchmechanik 175
Schlagworte:	Hochschulschrift > Nickellegierung > Aluminiumlegierung > Rissspitze > Rastertunnelmikroskopie > Rasterkraftmikroskopie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995
Beschreibung:	VIII, 115 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	3183175185 3-18-317518-5