In-situ-Analyse des epitaktischen Wachstums von III-V-Halbleitern mit der Reflexions-Anisotropie-Spektroskopie (RAS)

Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss. : 1994

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Reinhardt, Frank (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin W und T, Wiss.-und-Technik-Verl. 1994
Ausgabe:1. Aufl.
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss. : 1994
Beschreibung:171 S
Ill., graph. Darst
21 cm
ISBN:3928943111
3-928943-11-1