In-situ-Analyse des epitaktischen Wachstums von III-V-Halbleitern mit der Reflexions-Anisotropie-Spektroskopie (RAS)
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss. : 1994
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1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Berlin
W und T, Wiss.-und-Technik-Verl.
1994
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Ausgabe: | 1. Aufl. |
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Zusammenfassung: | Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss. : 1994 |
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Beschreibung: | 171 S Ill., graph. Darst 21 cm |
ISBN: | 3928943111 3-928943-11-1 |