Defect recognition and image processing in semiconductors and devices proceedings of the fifth international conference, Santander, Spain, 6 - 10 September 1993

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Jiménez, J. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bristol u.a. IoP 1994
Schriftenreihe:	Conference series / Institute of Physics 135
Schlagworte:	Konferenzschrift > Halbleiterbauelement > Gitterbaufehler > Bildgebendes Verfahren
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!