Computed electron micrographs and defect identification

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Head, A. K. (BerichterstatterIn), Humble, P. (BerichterstatterIn), Clarebrough, L. M. (BerichterstatterIn), Morton, A. J. (BerichterstatterIn), Forwood, C. T. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. North-Holland 1973
Schriftenreihe:	Defects in crystalline solids 7
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