VLSI design and test 17th international symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27 - 30, 2013$drevised selected papers

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	VDAT (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Gaur, Manoj Singh (HerausgeberIn), Zwolinski, Mark (HerausgeberIn), Laxmi, Vijay (HerausgeberIn), Boolchandani, Dharmendra (HerausgeberIn), Sing, Virendra (HerausgeberIn), Singh, Adit D. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2013
Schriftenreihe:	Communications in computer and information science 382
Schlagworte:	Konferenzschrift > VLSI > Entwurfsautomation > Testbarkeit > CAT > Verifikation > Eingebettetes System > Field programmable gate array > CASHE > CAD
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Inhaltstext Cover
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