Spectroscopic ellipsometry principles and applications

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Fujiwara, Hiroyuki (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Chichester Wiley 2009
Ausgabe:	Printed with corrections
Schlagworte:	Ellipsometry > Spectrum analysis > Materials > Optical properties > Ellipsometrie > Spektroskopie > Spektralanalyse > Werkstoff > Optische Eigenschaft
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