Lock-in thermography basics and use for functional diagnostics of electronic components

Literaturverz. S. [173] - 179

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Breitenstein, Otwin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Langenkamp, Martin (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2003
Schriftenreihe:	Advanced microelectronics 10
Schlagworte:	Electronic apparatus and appliances > Thermal properties > Testing > Semiconductors > Thermography > Infrarotthermographie > Elektrisches Bauelement > Prüftechnik
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Kapitel 1 Cover Inhaltsverzeichnis Publisher description
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