Lock-in thermography basics and use for functional diagnostics of electronic components

Literaturverz. S. [173] - 179

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Breitenstein, Otwin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Langenkamp, Martin (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2003
Schriftenreihe:Advanced microelectronics 10
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Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Kapitel 1
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Beschreibung
Zusammenfassung:Literaturverz. S. [173] - 179
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:VIII, 193 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:3540434399
3-540-43439-9