An introduction to surface analysis by XPS and AES

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Watts, John F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wolstenholme, John (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, Weinheim u.a. Wiley 2008
Ausgabe:	Repr.
Schlagworte:	Surfaces (Technology) > Analysis > Electron spectroscopy > Röntgen-Photoelektronenspektroskopie > Auger-Spektroskopie
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