An introduction to surface analysis by XPS and AES

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Watts, John F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wolstenholme, John (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, Weinheim u.a. Wiley 2008
Ausgabe:	Repr.
Schlagworte:	Surfaces (Technology) > Analysis > Electron spectroscopy > Röntgen-Photoelektronenspektroskopie > Auger-Spektroskopie
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Includes bibliographical references and index
Beschreibung:	X, 212 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9780470847121 978-0-470-84712-1 9780470847138 978-0-470-84713-8