X-ray emission wavelengths and kev tables for nondiffractive analysis

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Johnson, G. G. (BerichterstatterIn), White, E. W. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Philadelphia, Pa. American Soc. for Testing and Materials 1970
Schriftenreihe:ASTM data series publication 46
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