X-ray emission wavelengths and kev tables for nondiffractive analysis
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Philadelphia, Pa.
American Soc. for Testing and Materials
1970
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Schriftenreihe: | ASTM data series publication
46 |
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Beschreibung: | Bibliography: p. viii |
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Beschreibung: | VIII, 37 S. |
ISBN: | 9780803120068 978-0-8031-2006-8 0803120060 0-8031-2006-0 |