Advanced scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Newbury, Dale E. (BerichterstatterIn), Joy, David C. (BerichterstatterIn), Echlin, Patrick (BerichterstatterIn), Fiori, Charles E. (BerichterstatterIn), Goldstein, Joseph I. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. Plenum Press 1987
Ausgabe:	2. print
Schlagworte:	Rasterelektronenmikroskopie > Röntgenmikroskopie
Online Zugang:	Cover
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