Characterization of the defect structure in molecular organic crystals using ultrasonic measurements

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Pethrick, Richard A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	D'Ajello, P. C. T. (VerfasserIn), Okino, T. (VerfasserIn), Cerva, Hans (VerfasserIn), Fisher, David J. (VerfasserIn), Yu, Dapeng (VerfasserIn), Baranov, P. G. (VerfasserIn), Lewis, F. A. (VerfasserIn), Song, X. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Zuerich-Uetikon Scitec Publications Ltd 1997
Schriftenreihe:	Diffusion and defect data Defect and diffusion forum volumes 148-149
Schlagworte:	Festkörperphysik > Halbleiter
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