Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen an elektrisch aktiven Defekten in Halbleitern

Stuttgart, Univ., Diss. : 1988

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bode, Michael (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: 1988
Schlagworte:
Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:Stuttgart, Univ., Diss. : 1988
Beschreibung:170 S
Ill., graph. Darst
21 cm