Streuwinkelabhängige Elektronenenergieverlustmessungen an dünnen polykristallinen ZnS-, ZnSe- und CdS-Schichten zur experimentellen Bestimmung ausgewählter elektronischer Eigenschaften dieser II-VI-Verbindungen

@Berlin, Humboldt-Univ., Diss. A, 1985 (Nicht f.d. Austausch)

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Blum, Ralf-Peter (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1985
Schlagworte:	Hochschulschrift
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