Einwirkung der Dotierung auf die Struktur und Eigenschaften von Halbleitersilizium

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Kristallisation und Technik
1. Verfasser:	Taran, J. N. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kutsova, V. S. (VerfasserIn), Uzlov, K. I. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2002
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!