Containing papers presented at the 3rd International Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (BIADS '93) - a NATO Advanced Research Workshop August 30 - September 2, 1993, Bologna, Italy

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	BIADS (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Cavallini, A. (BerichterstatterIn), Donolato, C. (BerichterstatterIn), Pizzini, S. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam Elsevier Sequoia 1994
Schriftenreihe:	Materials science & engineering B, Solid-state materials for advanced technology 24,1/3
Schlagworte:	Konferenzschrift
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