Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Semmler, Ulrich Matthias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Jülich Forschungszentrum, Zentralbibliothek 2003
Schriftenreihe:	Berichte des Forschungszentrums Jülich 4036
Schlagworte:	Hochschulschrift > Forschungsbericht > Gitterbaufehler
Online Zugang:	Freie elektronische Version
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