Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów = The use of XPS and SIMS spectroscopy methods in studies of transport processes in surface layer of materials

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kowalski, Kazimierz (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	pol
Veröffentlicht:	Kraków Uczelniane Wydawn. Naukowo-Dydaktyczne AGH 2009
Schriftenreihe:	Rozprawy, monografie / Akademia Górniczo-Hutnicza Imienia Stanisława Staszica 200
Schlagworte:	Hochschulschrift > Werkstoffforschung > Oberfläche > Dünne Schicht > Spektroskopie > Oberflächenspektroskopie > Oberflächenphysik
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