Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów = The use of XPS and SIMS spectroscopy methods in studies of transport processes in surface layer of materials

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kowalski, Kazimierz (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:pol
Veröffentlicht: Kraków Uczelniane Wydawn. Naukowo-Dydaktyczne AGH 2009
Schriftenreihe:Rozprawy, monografie / Akademia Górniczo-Hutnicza Imienia Stanisława Staszica 200
Schlagworte:
Hochschulschrift > Werkstoffforschung > Oberfläche > Dünne Schicht > Spektroskopie > Oberflächenspektroskopie > Oberflächenphysik
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Beschreibung
Beschreibung:Mit e. Zs.fassung in engl. Sprache
Beschreibung:105 S.
Ill., graph. Darst.