Embedded processor-based self-test
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Weitere Verfasser: | , |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Boston, Mass. u.a.
Kluwer Academic
2004
|
Schriftenreihe: | Frontiers in electronic testing
28 |
Schlagworte: | |
Online Zugang: | Cover Inhaltsverzeichnis |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Beschreibung: | Literaturverz. S. [197] - 212 |
---|---|
Beschreibung: | XIV, 216 S. graph. Darst. |
ISBN: | 1402027850 1-4020-2785-0 1402028016 1-4020-2801-6 |