Verbundprojekt zur Entwicklung verbesserter Verfahren der Mikroanalyse von Oberflächen und dünnen Schichten durch Kombination von Ionenstrahl- und Lasertechniken Teilvorhaben Geräteentwicklung, Verfahrensentwicklung, Analytik ; Abschlußbericht

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Physikalisches Institut (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Benninghoven, Alfred (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Münster 1993
Schriftenreihe:Forschungsbericht / Bundesministerium für Forschung und Technologie Physikalische Technologien
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Beschreibung
Beschreibung:Förderkennzeichen BMFT 13 N 5477
Beschreibung:Getr. Zählung [47 Bl.]
Ill., graph. Darst