Frontiers of electron microscopy in materials science proceedings of the Fourth Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, Oakland, CA, USA, 21 - 24 April 1992

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Bradley, Steven A. (BerichterstatterIn), King, Wayne E. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. North-Holland 1993
Schriftenreihe:	Ultramicroscopy 51.1993,1/4
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!