Zur on-chip Testmustergenerierung für den Elektronenstrahltest

Zugl.: Hannover, Univ., Diss. : 1993

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Groß, Josef (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verlag 1993
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Fortschrittberichte VDI Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik 162
Schlagworte:	Hochschulschrift > Elektronenstrahltesten > Testmustergenerierung > Integrierte Schaltung
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