Digest of papers / Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium April 6 - 8, 1993, Atlantic City, New Jersey ; [design, test, and application: systems on silicon]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (BerichterstatterIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers Philadelphia Section (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society Press 1993
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
IEEE catalog number 93TH0537-1
Beschreibung:XIII, 365 S
Ill., graph. Darst
28 cm
ISBN:0818638303
0-8186-3830-3
0818638311
0-8186-3831-1