XPS- und TOF-SIMS-Untersuchungen der Stöchiometrie und des Oxidwachstums von HF-behandelten GaAs(100)-Oberflächen

Münster, Univ., Diss., 1993

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Storm, Wolfgang (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1993
Schlagworte:	Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Münster, Univ., Diss., 1993
Beschreibung:	83 S. graph. Darst.