Breakdown protection and long term stabilisation for Si detectors presented at the Sixth European Symposium on Semiconductor Detectors, Milano, February 24 - 26, 1992

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	European Symposium on Semiconductor Detectors (VerfasserIn), Werner-Heisenberg-Institut für Physik (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Bischoff, Andreas (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	München Werner-Heisenberg-Inst. 1992
Schriftenreihe:	MPI PhE 92-12
Schlagworte:	Forschungsbericht > Bericht > Konferenzschrift
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