Design, test and application: ASICs and systems-on-a-chip : digest of papers

Design, test and application: ASICs and systems-on-a-chip digest of papers

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York IEEE Computer Society 1992
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE catalog number 92TH0437-4"--T.p. verso
Includes bibliographical references
Beschreibung:xiv, 344 p
ill
28 cm
ISBN:0780306236
0-7803-0623-6
0780306244
0-7803-0624-4