Power-constrained testing of VLSI circuits

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Nicolici, Nicola (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Al-Hashimi, Bashir M. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boston u.a. Kluwer Acad. Publ. 2003
Schriftenreihe:	Frontiers in electronic testing 22
Schlagworte:	Integrated circuits, Very large scale integration > Testing > Protection > Semiconductors > Thermal properties > VLSI > Testen > Integrierte Schaltung > Funktionstest
Online Zugang:	Cover Inhaltstext Table of contents
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