Untersuchung von Metallen auf Halbleiteroberflächen mit Oberflächenabbildungs- und Analysen-Methoden

Frankfurt am Main, Univ., Diss., 1999

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Luck, Katrin (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1999
Schlagworte:
Hochschulschrift > Silicium > Oberflächenreaktion > Adsorption > Metallion > Biometrie > Halbleiteroberfläche > Verunreinigung
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Beschreibung
Zusammenfassung:Frankfurt am Main, Univ., Diss., 1999
Beschreibung:II, 57 S.
Ill., graph. Darst.