Entwicklung eines röntgenographischen Meßverfahrens zur Eigenspannungsanalyse im Mikrometerbereich

Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1999

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Möller, Dennis (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin Hahn-Meitner-Institut 1999
Schriftenreihe:HMI-Berichte 564
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