Entwicklung eines röntgenographischen Meßverfahrens zur Eigenspannungsanalyse im Mikrometerbereich
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1999
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1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Berlin
Hahn-Meitner-Institut
1999
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Schriftenreihe: | HMI-Berichte
564 |
Schlagworte: | |
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Zusammenfassung: | Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1999 |
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Beschreibung: | Literaturverz. S. 118 - [126] |
Beschreibung: | X, 125 S. Ill., graph. Darst. |