Die Grenzen der Anwendung von schlechtauflösenden Meßsystemen zur Ermittlung integraler und differentieller Parameter in Teilchenfeldern

München, Techn. Univ., Diss., 1972

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Schmatz, Wolfgang (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1972
Schlagworte:	Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:	München, Techn. Univ., Diss., 1972
Beschreibung:	2 Bl., 45 S.