From contamination to defects, faults and yield loss simulation and applications

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Khare, Jitendra B. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Maly, Wojciech (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boston u.a. Kluwer 1996
Schriftenreihe:	Frontiers in electronic testing 5
Schlagworte:	Integrated circuits > Very large scale integration > Computer-aided design > Testing > VLSI > Fehlersimulation > Fehlermodell
Online Zugang:	Cover Publisher description Table of contents only
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