Thin films: stresses and mechanical properties

Thin films: stresses and mechanical properties 4 Symposium held April 12 - 16, 1993, San Francisco, California, U.S.A. / ed.: Paul H. Townsend ..

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Townsend, Paul H. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Pittsburgh, Pa. Materials Research Society 1993
Schriftenreihe:Materials Research Society symposia proceedings 308
Schlagworte:
Konferenzschrift > Dünne Schicht > Mechanische Eigenschaft > Spannungsanalyse
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Beschreibung
Beschreibung:XVII, 778 S.
Ill., graph. Darst
ISBN:1558992049
1-55899-204-9