Untersuchung von Kristalldefekten in III-V-Halbleitern mittels elektrischer Verfahren

Freiberg, TU Bergakad., Habil.-Schr., 1993

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Siegel, Winfried (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1993
Schlagworte:	Hochschulschrift > Halbleiter > Gitterbaufehler
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Freiberg, TU Bergakad., Habil.-Schr., 1993
Beschreibung:	80 S. Anl. (in getr. Sz.), Ill., graph. Darst. 1 Beil.