Multiple-beam interference microscopy of metals

Multiple-beam interference microscopy of metals

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tolansky, Samuel (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: London, New York Academic Press 1970
Schlagworte:
Interferenzmikroskopie > Metall
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references
Beschreibung:IX, 147 S.
Ill., graph. Darst.
24 cm
ISBN:0126926506
0-12-692650-6