Point defects in semiconductors 2 Experimental aspects

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Lannoo, Michel (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Bourgoin, Jacques (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg, New York Springer 1983
Schriftenreihe:	Springer series in solid-state sciences 35
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