Point defects in semiconductors

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Lannoo, Michel (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Bourgoin, Jacques (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg, New York Springer 1981-1983
Schriftenreihe:	Springer series in solid-state sciences ..
Schlagworte:	Halbleiter > Störstelle
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!