On the nature of incident angle dependence of residual defect in silicon surface barrier detector = O prirode uglovoj zavisimosti ostatočnogo defekta amplitudy v kremnievom poverchnostno-barʹernom detektore

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Cyganov, Ju. S. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Poljakov, A. N. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dubna Obʺedinennyj institut jadernych issledovanij 1994
Schriftenreihe:	Obʺedinennyj institut jadernych issledovanij E7-94-346
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