Electromigration inside logic cells : modeling, analyzing and mitigating signal electromigration in NanoCMOS

Electromigration inside logic cells modeling, analyzing and mitigating signal electromigration in NanoCMOS

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Posser, Gracieli (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sapatnekar, Sachin S. (VerfasserIn), Reis, Ricardo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Cham Springer 2017
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Beschreibung:XX, 118 Seiten
Diagramme
23.5 cm x 15.5 cm, 226 g
ISBN:331984041X
3-319-84041-X
9783319840413
978-3-319-84041-3